冷热冲击测试机为待测品静态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在优良的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板

冷热冲击测试机符合标准

1.GB/T2423.22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

4. GJB150.5-1986温度冲击试验

产品特点

冷热冲击测试机为待测品静态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在优良的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环.低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环.该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便.

主要性能参数：

温度偏差：≤±2.0℃(空载)

降温时间：RT～-70℃约50分钟(空载)

升温时间：RT～+200℃约50分钟(空载)

温度波动：≤±0.5℃(空载)

试样放置方式：静态（产品不动）

温度回复时间：≤5min

温度转化时间：≤15s

温度转换方式：气动风门切换，换气式

备注：高低温冷热冲击试验箱的规格参数，与市场上同类产品一致，具体技术参数可以咨询！